Gaya APA
Waskito, Galang Arif, Santoso, Edy. (2020).
Pemeriksaan substantif dalam perlindungan paten : teknis substantif paten, desain tata letak sirkuit terpadu, dan rahasia dagang (Cet Pertama).
Depok:
BPSDM KUMHAM Press.
Gaya Chicago
Waskito, Galang Arif, Santoso, Edy.
Pemeriksaan substantif dalam perlindungan paten : teknis substantif paten, desain tata letak sirkuit terpadu, dan rahasia dagang.
Cet Pertama
Depok:
BPSDM KUMHAM Press,
2020.
Text.
Gaya MLA
Waskito, Galang Arif, Santoso, Edy.
Pemeriksaan substantif dalam perlindungan paten : teknis substantif paten, desain tata letak sirkuit terpadu, dan rahasia dagang.
Cet Pertama
Depok:
BPSDM KUMHAM Press,
2020.
Text.
Gaya Turabian
Waskito, Galang Arif, Santoso, Edy.
Pemeriksaan substantif dalam perlindungan paten : teknis substantif paten, desain tata letak sirkuit terpadu, dan rahasia dagang.
Cet Pertama
Depok:
BPSDM KUMHAM Press,
2020.
Print.